是否进口否	产地中国
加工定制是	品牌CINDBEST
型号CS-4

产品介绍                                                    
cs系列探针台造型小巧，测量精度高，操作方便，符合人机工程学。主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发。
4寸手动探针台
适合4英寸以内样品测试
体积小巧，可作为手套箱内探针台
产品参数                                                      
是否有现货： 是 品牌： cindbest
加工定制： 是 测量范围： 100fa-10a
尺寸： 400*400mm 电池种类： 没电池
测量精度： 100fa 电源电压： 220v
用途： 半导体产品电学参数测试 型号： cs系列
规格： 4英寸标准探针台 商标： cindbest
包装： 木箱
技术参数                                           
规格
chuck（可选）
4" 或6" 不锈钢，真空吸附型，独立开关控制
chuck x-y轴行程，精度
4" x4"，10um
chuck 旋转角度
0~360 度
chuck 旋转角度微调精度
0.01°
chuck快速升降（选配）
4mm
chuck微调升降（选配）
4mm ，1um精度
chuck 平整度
5um
针座平台
c型设计，可放置8个bt 型针座，可扩展为o型平台
针座平台平整度
5 um
显微镜z轴行程，精度
2"，细调精度0.1um
需求
电力
220 vac, 60hz
真空
-250 mmhg, 7 liter/min
尺寸
320mm宽*320mm长*400mm高（带显微镜）
重 20 kg（带显微镜）
可选附件
激光切割
加热台
防震桌
显微镜暗场 / dic/normarski 检测
光强/波长测试接口部件
射频测试探头和线缆
有源探头
低电流/电容测试
高压测试
ccd视频系统
液晶漏电分析套装
屏蔽箱
镀金chuck
性能特点                                                        
cs探针台能够胜任的测试有：
序号
根据测试样品分类
序号
根据应用分类
1
晶圆测试
1
射频测试
2
led测试
2
高温环境测试
3
功率器件测试
3
低电流（100fa 级）测试
4
mems测试
4
i-v/c-v/p-iv测试
5
pcb测试
5
高压，大电流测试
6
液晶面板测试
6
磁场环境测试
7
太阳能电池片测试
7
辐射环境测试
8
材料表面电阻率测试
9
积分球测试
使用说明                                                       
将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。
使用卡盘x轴/y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。
使用卡盘x轴/y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。
显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。
待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座x-y-z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用y轴旋钮将探针退后少许，再使用z轴旋钮进行下针，***后则使用x轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是否已经接触。
确保针尖和被测点接触良好后，则可以通过连接的测试设备开始测试。
产品实拍图                            

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吴女士
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