'werth测量设备
 德国werth werth测量机，werth传感器，werth测量设备
 werth测量技术有限公司60多年成功发展的基石。1955年，第一台以人体工程学和精确度为基准的斜面轮廓投影仪问世。从20世纪60年代到80年代，werth公司以轮廓投影仪为基础，结合光缘传感器和数字测距仪，研发出了光学数控三座标测量仪。在1987年，第一台被命名为“inspector®”的多传感器三座标测量仪问世，该仪器配备了集成的图像处理传感器和激光测距传感器。在20世纪90年代，通过“videocheck®”生产线的引入，魏德公司成为数字图像处理技术推广的先驱者。早期的用于机器控制的电脑技术和严格的模块化理念首次实现了高性能，价格适中。
 如今，除了图像处理技术，werth公司又研发出了更多的光学传感器，如“3d-patch”，“werth 激光探测器”， “色彩聚焦探测器”， “纳米聚焦探测器” 和 “werth 干涉仪探测器”。传统的用于单点的测量或扫描的触觉传感器，获得专利的“werth 轮廓探测器”和三维微探测器“werth 光纤探测器”的应用扩大了测量仪器的应用范围。制造的测量设备的范围从产品控制检测仪延伸到测量误差在几十纳米内的高精度的多传感器测量仪。为了提高测量速度，采用了线性驱动器和“on-the-fly”技术。
 2005年，werth公司推出了第一台专门为坐标测量开发的x射线电脑断层扫描坐标测量仪“tomoscope®”。它使快速完整地测量三维工件成为可能。通过创新的解决方案，使得断层扫描技术的精确度被提升到了坐标测量仪的水平。断层扫描所需要的所有功能都被整合到了通用软件“winwerth®”中，在确保了测量结果可靠的同时，使得操作简单化。
超过1万台werth公司生产的三座标测量仪被全球不同的工业部门安装使用。应用领域包括：航空航天，汽车制造，电子工业，珠宝制作，工具制造，塑料注塑，涡轮机制造，铝及塑料挤压成型。在光学传感器，多传感器的应用和x射线断层扫描技术，以及三维特征的测量方面，werth公司目前处于世界领先地位。凭借多项世界第一和设备及传感器专利，werth公司成为了在这一市场层面的全球技术领军者。通过由din en iso 9001认证的质量管理系统和在德国认证机构认可的实验室（dakks-labor）进行的由din iso 17025认证的三座标测量仪的校准，确保了其设备产品的可靠性和精准性。
产品主要型号：werth scopecheck 50、werth scopecheck 200、werth flatscope 400、werth flatscope 650、werth scopecheck 200、werth scopecheck 300、werth scopecheck 400、
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刘哲龙
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