CS-3100 CS-5300 IWATSU CS-5200/3200/3300 岩崎IGBT半导体曲线
产品系列
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产品名称
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型号
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备注
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主机
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半导体特性曲线图示仪
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CS-3100
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3000V /无高电流模式- CS-301 / CS-500
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半导体特性曲线图示仪
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CS-3200
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3000V / 400A（高电流模式）- CS-302 / CS-500
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半导体特性曲线图示仪
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CS-3300
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3000V / 1000A（高电流模式）- CS-302 / CS-500
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测试台
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S型测试台
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CS-301
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CS-3100标配
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M型测试台
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CS-302
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CS-3200 / CS-3300标配
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测试适配器
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测试适配器
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CS-500
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主控装置附送1个测试适配器
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TO型测试适配器
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CS-501
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适用于TO型封装（3个引脚）的插口
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鳄鱼夹
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小型鳄鱼夹（红色） x 10
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CS-001
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M型测试台选件：CS-302
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小型鳄鱼夹（黑色） x 10
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CS-002
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M型测试台选件：CS-302
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软件选件
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半导体参数搜索
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CS-800
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该软件选件需与CS-3000系列配合安装
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半导体参数测量
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CS-810
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主控装置中装有CS-800时，该选项可以在PC（可选）上使用。
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三、半导体曲线图示仪详细参数
半导体特性曲线图示仪 CS-3000系列 (符合 UL 规格)规格
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项目
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CS-3100
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CS-3200
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CS-3300
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集电极电源
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模式
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高电压
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AC、±全波整流、± DC、±LEAKAGE
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大电流
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脉冲
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zui大峰值功率
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120 mW、1.2 W、12 W、120 W、390 W
*可以选择390 W（不含3000 V范围下的zui大峰值电压设置）。
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大电流模式（400 W、4 kW）
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大电流模式（400 W、4 kW、10 kW）
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高电压模式
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zui大峰值电流
（zui大峰值脉冲电流）
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zui大峰值电压
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75 mA (150 mA)
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3000 V（2500 V，AC）
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750 mA (1.5 A)
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300 V
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7.5 A (15 A)
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30 V
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环路校正
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测试台的集电极引脚与接地之间的杂散电容由高电压模式下的硬件提供补偿，还可提供数字补偿。
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大电流模式（脉冲）
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-
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zui大峰值电流
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zui大峰值电压
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400 A
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40 V
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40 A
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40 V
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zui大峰值电流
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zui大峰值电压
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1000 A
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40 V
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400 A
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40 V
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40 A
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40 V
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脉冲宽度/测量点
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-
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脉冲宽度可在50 - 400 μs范围内变化。
可以测量点（分辨率为10 μs/步进）。
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数据点上限
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每次跟踪可以20 - 1000个点。
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阶梯信号发生器
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电流模式
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幅度范围：50 nA - 200 mA，共21个范围，步进为1-2-5
zui大电流：±2A/偏移：步进幅度设置的±10倍
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电压模式
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幅度范围：50 mV - 2 V，共6个范围，步进为1-2-5
zui大电压：±40V/偏移：步进幅度设置的±10倍
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步进率
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梯形波：50 Hz或60 Hz的2倍
（AC模式下为50 Hz或60 Hz）
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梯形波：50 Hz或60 Hz的2倍（AC模式下为50 Hz或60 Hz）
脉冲：脉冲变化范围为80ms - 1000 ms。
（zui低频率受zui大峰值功耗设置限制。）
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脉冲步进
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脉冲宽度可在50μs - 400 μs范围内变化（分辨率为10μs）。
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步进数
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0 - 20步
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AUX输出
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范围
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关闭，-40V - +40 V，按100mV分辨率变化
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垂直轴
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集电极电流
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范围
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高电压模式：1 μA/div - 2 A/div，共20个范围，步进为1-2-5。
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高电流模式：100 mA/div - 50 A/div，共9个范围，步进为1-2-5。
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高电流模式：100 mA/div - 100 A/div，共10个范围，步进为1-2-5。
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精度
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2%读数 + 0.05 × VERT/div设置值或更低（下面的内部环路校正错误必须加至左边的公式中。）
3 kV范围：6 μA、300 V 范围：1 μA, 30 V 范围：0.5 μA（仅针对各电压范围面积的10%或以上。）
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发射极电流（泄漏）
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范围
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1 nA/div - 2 mA/div，共20个范围，步进为1-2-5
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精度
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2%读数+ 0.05 × VERT/div设置值 + 1 nA 或更低
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水平轴
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